Jelenlegi hely

Kutatószeminárium

Félév: 
2016/17 II. félév
Helyszín: 
Árpád tér 2. II. em. 220. sz.
Dátum: 
2017-03-14
Időpont: 
15:15-16:00
Előadó: 
Koós Krisztián
Cím: 
Képi információval és gépi tanulással támogatott autopatcher rendszer
Absztrakt: 

A patch-clamp folyamat az idegsejtek elektrofiziológiai vizsgálatára használt módszer. A technikáért Erwin Neher és Bert Sakmann 1991-ben fiziológiai és orvostudományi Nobel-díjat nyert. Egy gyakorlott biológus naponta mindössze 10-20 sejten tud sikeres mérést végezni. A mérések számának növelése érdekében egyre több kutatás foglalkozik a technika automatizálásával. Előadásomban bemutatom az általam elkészített automatikus patch-clamp rendszert, mely felhasználói interakció nélkül képes egysejt szinten patch-clampelni. A mikroszkóp részeinek (pozícionáló motorok, kamera, nyomásszabályzó, elektrofiziológiai vezérlő) összehangolt működtetése komplex mérnöki feladat. A szövetekről készült mikroszkópképek előfeldolgozása és a mérő elektróda (pipetta) pozíciójának detektálása energiaminimalizációs módszerrel történik. A sejtek szegmentálását és a fenotípusaik meghatározását mély neurális hálóból származó jellemzők alapján gépi tanulással végezzük. Reményeink szerint a rendszer automatikusan fog naponta több száz mérést végezni.