Bevezetés
Az NI PXIe-4082 egy nagy felbontású multiméter, mely jól illeszkedik a PXI méréstechnikába. Általában egy multiplexer kártyával együtt érdemes használni, így ugyanis számos mérési pont egyetlen multiméterrel vizsgálható. A műszer felbontása rugalmasan változtatható, lassú mérések esetén akár 6,5 digites felbontás is elérhető, ugyanakkor akár 1,8 millió mintát is mérhetünk másodpercenként, ha a sebesség a fontos.
Legfontosabb tulajdonságok
- Feszültségtartomány: 300 V CAT II
- Felbontás: 10-23 bit, 3,5-6,5 digit
- 2 és 4 pontos mérések
- Digitalizáló, 10 S/s – 1,8 MS/s, feszültség és áramerősség
| Funkció | Mérési tartományok |
|---|---|
| Feszültség | 100 mV, 1 V, 10 V, 100 V, 300 V |
| Ellenállás | 100 Ω, 1 kΩ, 10 kΩ, 100 kΩ, 1MΩ, 10 MΩ, 100 MΩ |
| Áram | 20 mA, 200 mA, 1 A |
| Kapacitás | 300 pF, 1 nF, 10 nF, 100 nF, 1 µF, 10 µF, 100 µF, 1000 µF, 10 mF |
| Induktivitás | 10 µH, 100 µH, 1 mH, 10 mH, 100 mH, 1 H, 5 H |
| Dióda | 10V, tesztáram: 1 µA, 10 µA, 100 µA, 1 mA |
| Frekvencia | 15 Hz – 500 kHz |
| Hőmérséklet szenzorok | RTD; termisztor; J, K, N, T, E, R, S, B termoelem |
Multiméter használata
A műszer használatára az egyik egyszerű megoldás az InstrumentStudio használata.
A pontos, zajmentes mérésekhez érdemes beállítani a hálózati frekvenciát, ami Európában 50 Hz. Ekkor a műszer olyan mérési időket (aperture time) fog beállítani, amik illeszkednek ehhez a beállításhoz.
A multiméter számos mérési funkciót támogat, ezek a csatorna beállításainál választhatók ki a Measurement type opcióval.
A mérési tartomány alapértelmezetten automatikusan van kiválasztva. Ekkor azonban nem minden funkció választható ki. A műszernek van nagy impedanciás bementi üzemmódja is feszültségmérés esetén, fix méréstartományt választva érhetjük el.
Felbontásként választhatunk 3,5 és 6,5 digit között. A beállított felbontás befojásolja a mérési időt is, kisebb felbontás esetén a mérések gyorsabbak. Lehetőségünk van az időzítési és egyéb paraméterek részletes beállítására is.
Az InstrumentStudio esetén további mérőműszerek is hozzáadhatók a felülethez, így egyszerre több mérés eredménye is áttekinthető.
